EL MOUKHTARI, IssamLEWIS, DeanPOUGET, VincentDARRACQ, Frédéric
Ce travail constitue une contribution à l étude de la synergie entre le vieillissement accéléré et l évolution de la robustesse aux évènements singuliers pour les technologies MOS avancées. Ce manuscrit expose le travail fait autour de la Caractérisations des mécanismes de dégradation NBTI, HCI, TDDB et Electromigration sur les structures de tests ...
Le travail de thèse a consisté, en priorité, à s approprier les technologies d intégration verticale en usage dans l industrie pour réaliser des mémoires à plusieurs étages, et à en évaluer l apport pour les capteurs à pixel CMOS (CPS). Cette approche s appuie sur la capacité de l industrie à interconnecter des puces amincies empilées les unes sur ...
La croissance continue de la demande mondiale des produits semi-conducteurs (dans un large éventail de secteurs, tels que la sécurité, la santé, le divertissement, la connectivité, l'énergie, etc) a été conduite par la loi de Moore en doublant régulièrement la densité et les performances des circuits numériques. Cependant, comme la miniaturisation ...
Depuis ces dernières années, les composants fortement submicroniques du commerce sont utilisés dans les équipements aéronautiques pour des applications spécifiées pour durer plusieurs décennies. Toutefois, ces composants sont destinés aux marchés de masse que représentent les secteurs de la micro informatique et des télécommunications et ne sont pa...
Avec les progrès technologiques réalisés au cours de ces dernières décennies, la complexité et les vitesses de fonctionnement des circuits intégrés ont beaucoup été augmentées. Bien que ces évolutions aient permis de diminuer les dimensions et les tensions d alimentations des circuits, la compatibilité électromagnétique (CEM) des composants a forte...