Les Sondages peuvent-ils se tromper ?
La fiabilité d'une application se mesure par une probabilité de défaillance sur une période de temps définie. Une assez bonne fiabilité peut être obtenue en utilisant des méthodes de programmation telles que la programmation modulaire, la programmation structurée. Notre objectif a été la réalisation d'un outil facilitant la détection d'erreurs au n...
Les études sur le test fonctionnel d'un microprocesseur et de ses périphériques se situent dans le cadre d'un projet pilote de l'IRIA : sûreté de fonctionnement des systèmes (SURF). Nos efforts ont portés sur la réalisation d'une bibliothèque de programmes de test pour microprocesseurs standards. Ceci explique que la méthode de test proposée est de...
CE MEMOIRE EST CONSACRE A LA CONCEPTION D'UN SUPPORT DE COMMUNICATION SUR DE FONCTIONNEMENT, A TEMPS D'ACCES BORNE ET FAIBLE, POUR SYSTEMES DISTRIBUES DE SURVEILLANCE ET SECURITE. L'ANALYSE EFFECTUEE CONDUIT A UNE APPROCHE PAR DOUBLE DECOMPOSITION INTEGRANT LA VALIDATION PROGRESSIVE DES CHOIX: LA CONCEPTION EST MENEE PAR AFFINEMENTS SUCCESSIFS, CON...
Contrôleurs utilisés dans les systèmes autotestables pour le test des sorties combinatoires ou séquentielles. Conception des contrôleurs NMOS à partir de l'assemblage des cellules, des règles de conception pour celle-ci, et des hypothèses de pannes pouvant survenir. Les considérations pratiques sont basées sur des hypothèses de pannes analytiques
Un test permet d'assurer la sécurité de fonctionnement des circuits VLSI. La première partie montre l'intérêt dans un tel contexte d'un processeur facilement testable; la deuxième partie développe pour de tels microprocesseurs une stratégie de test. Dans la troisième partie est traité le problème de la définition des vecteurs de test des circuits l...
Partant d'un jeu d'instructions spécifique à l'application (domaine des automatismes logiques), on propose une architecture permettant d'exécuter ledit jeu d'instructions et disposant de facilités de test en fin de conception et au cours de la vie du circuit. L'observabilité et la contrôlabilité du composant représentent une partie importante de l'...