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Retour d'expérience et modèle graphique probabiliste pour l'isolation de défaillances

Authors
  • Mechri, Walid
  • Simon, Christophe
  • Morel, David
Publication Date
Aug 30, 2017
Source
HAL-UPMC
Keywords
Language
French
License
Unknown
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Abstract

Dans cet article, une approche probabiliste basée sur les réseaux Bayésiens est proposée. Elle est utilisée pour l'isolation de défaillances d'un système. Le principe méthodologique pour tenir compte de la connaissance des experts des causes de pannes, isoler ces pannes, mais aussi pour intégrer le retour d'expérience est décrit. L'objectif est d'améliorer le processus d'isolation pour une maintenance plus rapide.

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