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Optimisation de la mesure de travail de sortie par microscopie à sonde locale sous vide : application aux dispositifs avancés

Authors
Publication Date
Source
HAL-CEA
Keywords
  • Cdte/Cds Heterojunction
  • Work Function
  • Afm
  • Microscopie à Force Atomique
  • Kfm
  • Travail De Sortie
  • Cdte/Cds Hétérojonction
  • [Spi.Other] Engineering Sciences [Physics]/Other
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Abstract

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