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Méthodologie d'optimisation de plan de test pour l'évaluation de la fiabilité de composants optoélectroniques

Authors
  • Truong, Minh-Tuan
Publication Date
Sep 14, 2022
Source
HAL-Descartes
Keywords
Language
French
License
Unknown
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Abstract

Du fait des récents progrès liés à leur intégration (hybridation, collage direct, TSV…), les composants électroniques deviennent de plus en plus complexes. Dans ce contexte d'évolution des composants, les principaux composants concernés sont les composants de type optoélectroniques. La complexité de ces composants optoélectroniques a des conséquences sur l'étude de leur fiabilité, notamment au travers du nombre de tests à réaliser et du temps nécessaire à leur réalisation. À cela viennent se rajouter de nouvelles problématiques telles que les interactions existantes entre différents éléments (ex. diode laser, photodiode) du composant. L'objectif principal de cette thèse est donc de développer une méthodologie (générique) d'optimisation de plan de test accéléré pour l'évaluation de la fiabilité de composants optoélectroniques. Cet objectif repose sur trois verrous scientifiques majeurs. Le premier verrou s'inscrit en regard du défi d'optimisation du plan de test accéléré pour l'évaluation de la fiabilité des composants. Les deux derniers verrous scientifiques concernent plus spécifiques à la modélisation du processus de dégradation de l'élément en prenant compte des différents facteurs d'influence, et le calcul de la fiabilité d'un composant optoélectronique en prenant en compte l'interaction entre ses éléments. Pour répondre de ces verrous, nous avons proposé quatre contributions principales: (1) Investigation et formulation d'impacts de facteurs d'influence (l'auto-échauffement au niveau élément et l'interaction d'états au niveau composant) sur le processus de dégradation des éléments (diode laser, photodiode) d'un composant optoélectronique; (2) Développement de modèles de dégradation permettant de tenir compte de l'impact de ces facteurs d'influence (auto-échauffement) pour chacun des éléments; (3) Extension de chacun des modèles de dégradation proposés au niveau composant pour calculer la fiabilité d'un composant optoélectronique constitué à partir de ses éléments; (4) Développement d'un plan optimisé de tests accélérés pour chacun des composants optoélectroniques étudiés. Enfin, ces contributions ont été validées par les expérimentations sur des composants optoélectroniques étudiées au sein du CEA LETI de Grenoble.

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