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Méthode de mesure du courant de fuite de grille comme indicateur de vieillissement dédiée aux Gate Drivers

Authors
  • Ginot, Nicolas
  • Batard, Christophe
  • Weckbrodt, Julien
  • Long Le, Thanh
  • Azzopardi, Stéphane
Publication Date
Jul 06, 2021
Source
HAL-Descartes
Keywords
Language
French
License
Unknown
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Abstract

Cet article présente une nouvelle méthoded'estimation du courant de fuite de grille pour les composants detype MOSFET SiC. Cette méthode est directement intégrée dansun gate driver et permet d’assurer une mesure tant en mode « offline » que « on line ». Elle présente l’intérêt d’exploiter la structurenaturelle des gate drivers sans une complexification excessive. Lesrésultats de mesure montrent une capacité à estimer des courantsde fuite allant de 30 nA au mA. Cette méthode de mesure a étéintégrée à un gate driver industriel, ce dernier assurant égalementde nombreuses autres mesures ainsi que le transfert des donnéesvers le contrôle commande. Ces résultats sont issus d’une étroitecollaboration avec le groupe SAFRANTECH.

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