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Effect of temperature on dynamical electron diffraction intensities

Authors
Journal
Solid State Communications
0038-1098
Publisher
Elsevier
Publication Date
Volume
2
Issue
11
Identifiers
DOI: 10.1016/0038-1098(64)90255-8

Abstract

Zusammenfassung Die Temperaturabhängigkeit dynamischer Elektronenbeugungsintensitäten einer polykristallinen Aluminiumschicht wurde im Bereich von 150 bis 800°K gemessen. Es wird gezeigt, dass die experimentell bestimmten effektiven Debye Waller Faktoren exp (-α gM g) für diese dynamisch beeinflussten Reflexe gut mit den nach verschiedenen Näherungslösungen der dynamischen Theorie verechneten übereinstimmen.

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