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Examination of defects, structures, and movements in solids (semiconductors, metals, nanocrystals, and others) by means of short-lived beta-active probe nuclei Final report / Untersuchung von Fehlstellen, Strukturen und Bewegungen in Festkoerpern (Halbleiter, Metalle, Nanokristalle u.a.) mit Hilfe kurzlebiger beta-aktiver Sondenkerne Schlussbericht

Authors
  • Ackermann, H.
  • Almeida, T.
  • Diehl, E.
  • Ergezinger, K.H.
  • Fischer, B.
  • Frank, H.P.
  • Heemeier, M.
  • Ittermann, B.
  • Kroll, F.
  • Mai, F.
  • Marbach, K.
  • Peters, D.
  • Seelinger, W.
  • Stoeckmann, H.J.
  • Welker, G.
  • Weissenmayer, S.
  • univ., 13 marburg
Publication Date
Jan 01, 1995
Source
OpenGrey Repository
Keywords
Language
German
License
Unknown

Abstract

SIGLE / Available from TIB Hannover: DtF QN1(42,54) / FIZ - Fachinformationszzentrum Karlsruhe / TIB - Technische Informationsbibliothek / Bundesministerium fuer Bildung, Wissenschaft, Forschung und Technologie, Bonn (Germany) / DE / Germany

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