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Application de la topographie par diffraction des rayons X à l'étude des métaux

Authors
  • Champier, G.
  • Baudelet, B.
Publication Date
Jan 01, 1968
Source
HAL
Keywords
Language
French
License
Unknown
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Abstract

On rappelle le principe des différentes méthodes de topographie par diffraction des rayons X : méthode de Berg-Barrett par réflexion ; méthode de Lang et méthode de Borrmann par transmission. Dans le cas des métaux, ces techniques ont permis d'étudier la microstructure des monocristaux, les configurations des dislocations, les déplacements des dislocations, les fautes d'empilement, les macles et les parois des domaines ferromagnétiques. Elles présentent certains avantages par rapport aux autres méthodes d'observation des dislocations : elles sont non destructives, elles explorent des volumes importants du cristal, elles utilisent des échantillons épais et les effets des surfaces sont éliminés ; elles se trouvent cependant limitées en résolution et elles ne s'appliquent qu'à des échantillons à faible densité de dislocations ( N ≤ 105 disl. cm-2). Les principaux résultats obtenus jusqu'à ce jour sont regroupés par métaux. On indique les améliorations à apporter dans le cadre de l'appareillage : tubes à rayons X plus puissants, intensificateurs d'image, porte-échantillon à haute et à basse température, dispositifs de déformation sur la chambre. On pourra utiliser ces techniques pour différentes études : mécanismes d'interaction entre dislocations, vitesse de déplacement des dislocations en fonction de la température et de la contrainte, origine et multiplication des dislocations, rôles respectifs des dislocations fraîches et des dislocations originelles, microdéformation plastique, transformation de phases, diffusion, précipitation... ; ces études supposent que l'on dispose d'échantillons ayant une densité de dislocations assez faible et une épaisseur convenable.

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