Affordable Access

Appareillages de mesure de la conductivité thermique des semi-conducteurs - I. généralités ; Méthode des fluxmètres

Authors
  • Weill, G.
Publication Date
Jan 01, 1962
Source
HAL
Keywords
Language
French
License
Unknown
External links

Abstract

L'appareillage décrit permet des mesures rapides de la conductivité thermique, à la température ordinaire, de petits échantillons de matériau semi-conducteur. L'éprouvette en expérience joue le rôle de thermomètre différentiel, cette disposition élimine l'effet parasite des résistances thermiques de contact. Les gradients de température sont maintenus très faibles, de manière à réduire les pertes de chaleur. La méthode permet une évaluation expérimentale de ces pertes. L'appareil peut être étalonné de manière à donner des valeurs absolues.

Report this publication

Statistics

Seen <100 times