Analysis and modelling of dielectric charging phenomena in rf mems (application to the predictive reliability of microwave electromechanical micro-switches) / Analyse et modélisation des phénomènes de chargement de diélectriques dans les MEMS RF (application à la fiabilité prédictive de micro-commutateurs électromécaniques micro-ondes)

Authors

• MELLE, Samuel
• PLANA, Robert
• DUBUC, David

Publication Date

Jan 01, 2005

Source

OpenGrey Repository

Keywords

• Electronics
• Electronique
• Systèmes De Communication Sans Fil
• Systèmes Microélectromécaniques
• Mems Rf
• Micro-Commutateurs
• Banc De Tests
• Hyperfréquences
• Fiabilité
• Mode Et Mécanisme De Défaillance
• Chargement Du Diélectrique
• Mécanisme De Conduction Frenkel-Poole
• Modélisation
• Facteur De Mérite
• Rf Mems
• Micro-Switches
• Reliability Tests Set-Up
• Micro-Waves
• Reliability
• Failure Modes And Mechanisms
• Dielectric Charging
• Frenkel-Poole Conduction Mechanism
• Modelling
• Figure Of Merit
• 090 - Electronics And Electrical Engineering, Computer Science, General
• Électronique

Language

French

License

Unknown