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Einige kritische betrachtungen zur photometrischen auswertung von dünnschichtplatten

Authors
Journal
Journal of Chromatography A
0021-9673
Publisher
Elsevier
Publication Date
Volume
16
Identifiers
DOI: 10.1016/s0021-9673(01)82493-6

Abstract

Zusammenfassung In den vorstehenden Ausführungen werden die Versuche beschrieben, welche zur photometrischen Auswertung von angefärbten bzw. fluoreszierenden Dünnschichtplatten nach verschiedenen Methoden angestellt wurden. Ferner wird die Beeinflussung des Messwertes von der jeweiligen Fleckform sowohl rechnerisch als auch experimentell behandelt und insbesondere auf eine Verfälschung des Analysenergebnisses bei Nichtbeachtung von zusätzlich auftretenden Fleckdeformationen hingewiesen. Es werden zwei mögliche Korrekturverfahren erwähnt, über die gesondert zu einem späteren Zeitpunkt berichtet werden soll.

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