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Multi-faulted dislocation loops in electron bombarded aluminium

Authors
Journal
Micron (1969)
0047-7206
Publisher
Elsevier
Publication Date
Volume
4
Issue
3
Identifiers
DOI: 10.1016/0047-7206(72)90022-2

Abstract

Zusammenfassung Mit einem Hochspannungselektronenmikroskop wurden mehrfach defekete Veschiebungsschleifen in Aluminiumproben erzeugt und beobachtet. Eine Vielfalt verschiedener Schleifenformen, unter anderen doppelte und dreifache Schichtdefekte, wurden in Aluminium aufgefunden, das mit Helium präinjiziert wurde, und diese Befunde mit Untersuchungen anderer Autoren verglichen, die an gelöschtem Material arbeiteten. Wenn das Aluminium zuerst mit einigen ppm Helium dotiert wurde, traten defekte Verschiebungsschleifen in einem größeren Bestrahlungstemperaturbereich auf und zeigten eine größere Vielfalt der Konfigurationen als im nicht injizierten Material. Daraus läßt sich scließen, daß Helium die Defektbildung beeinflulsBt.

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