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Some applications of high voltage electron microscopy to the study of materials

Authors
Journal
Micron (1969)
0047-7206
Publisher
Elsevier
Publication Date
Volume
1
Issue
4
Identifiers
DOI: 10.1016/0047-7206(70)90057-9

Abstract

Résumé On décrit des méthodes permettant de déterminer des courbes de pénétration et on donne les courbes pour le fer, le tungstène, le ciment et le verre. L'augmentation de pénétration est d'environ 300% à 500kV et entre 500% et 600% à 1MV, comparée avec celle à 100kV. Grâce à cette augmentation de pénétration on peut faire des recherches à des voltages d'accélération élevés, ce qui autrement aurait été difficile, voire même impossible, avec la microscopie électronique à 100kV. On donne des exemples à la fois pour les métaux et les métalloïdes.

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