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Seeing and measuring with electrons: Transmission electron microscopy today and tomorrow – An introduction

Authors
Journal
Comptes Rendus Physique
1631-0705
Publisher
Elsevier
Volume
15
Identifiers
DOI: 10.1016/j.crhy.2014.02.001
Keywords
  • Transmission Electron Microscopy
  • Signal Generation And Recording
  • Aberration Correction
  • Nanolaboratory
  • Microscopie électronique à Transmission
  • Génération Et Détection Des Signaux
  • Correction D'Aberrations
  • Nanolaboratoire
Disciplines
  • Physics

Abstract

Résumé Ce dossier des Comptes rendus Physique est consacré à une revue des développements méthodologiques et technologiques les plus récents en microscopie électronique, et qui offrent en 2014 à cette génération d'instruments des possibilités tout à fait uniques pour explorer la matière condensée à l'échelle atomique. Ce texte d'introduction a pour but de résumer, pour le lecteur potentiel des chapitres qui suivent, une information de base. Il rappelle donc des généralités sur la conception des colonnes, sur les stratégies d'acquisition du signal, sur la correction des aberrations, sur le pouvoir de résolution, sur les expériences in situ et sur d'autres approches innovantes. Quelques domaines privilégiés d'utilisation présente et future sont identifiés et décrits.

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