Affordable Access

X-IŞINI GÖRÜNTÜLEMEDE YARIİLETKEN DEDEKTÖRLERİN KULLANILMASI

Authors
Publisher
DOKUZ EYLÜL ÜNİVERSİTESİ MÜHENDİSLİK FAKÜLTESİ
Publication Date
Keywords
  • Teknolojİ

Abstract

X-ışını görüntülemede çeşitli dedektörler kullanılmaktadır. Bunlar sintilasyon ve yarı iletken dedektörlerolarak sınıflandırılabilir. Bu çalışmada özellikle anjiografide halen kullanılan CsI tipi sintilasyon dedektörlerle,CdTe tipi yarıiletken dedektörler karşılaştırılmıştır. Öncelikle bu dedektörler bilgisayarda simüle edilmiş ve xışınısimülasyon programıyla incelenmiş ve anjiografide kullanılan iki farklı tüp uygulama tekniği ile deneyleryapılmıştır. Bu teknikte tüpe önce alçak voltaj (60 kVp) uygulanmakta ve bu anda tüpün önünde karakteristikfiltre olarak sadece bakır levha bulunmaktadır. Daha sonra tüpe daha yüksek gerilim uygulanması (120 kVp)esnasında tüp önüne filtre olarak ise bakır + alüminyum levhalar konulmuştur. Buradan alınan farklı spektrumlardeğerlendirilerek görüntü oluşturulmaktadır. Bu deneyler tüpe uygulanan voltajların değişik değerleri için vetüpün önüne konulan karakteristik filtrelerin çeşitli değerleri için bir çok kez tekrarlanmıştır. Bütün budeneylerin sonucu halen kullanılmakta olan CsI dedektörlerine göre, CdTe tipi yarı iletken dedektörlerde sinyalgürültü oranı (SNR) yaklaşık 10 kat daha büyük çıkmaktadır. Bu sonuçlara bakılarak gelecekte x-ışınıgörüntülemede özellikle düşük enerjilerde CdTe tipi dedektörlerin yaygın kullanılacağı söylenebilir.Different detectors are being used in X-ray imaging. They can be classified as scintillation and semiconductordetectors. In this study CsI and CdTe type detectors, which are especially used today in angiography,have been compared. First, these detectors have been simulated in computer and experiments have been carriedout by applying two different tube techniques, which are usually used in angiography with an X-ray simulationprogram. In this technique, firstly, low voltage (60 kVp) is applied to the tube with a copper sheet in front of itthat serves as an inherent filter. Then, higher voltage (120kVp) is applied to the tube with a copper andaluminum sheets in front of the tube for the same purpose. Image is composed by evaluating different spectrumsobtained. These experiments have been repeated for different values of applied voltages and different type adthickness of inherent sheets. As a result of these experiments, it was found that the signal to noise ratio (SNR) ofthe CdTe type detector is found to be approximately ten times greater than the CsI type detectors that are usedpresently. From this profile, especially at X-rays monitoring field in the future, CdTe type detectors could beused extensively at low energies.

There are no comments yet on this publication. Be the first to share your thoughts.